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74LVC1G74GT 库存 & 价格

NXP IC LVC/LCX/Z SERIES, POSITIVE EDGE TRIGGERED D FLIP-FLOP, COMPLEMENTARY OUTPUT, PDSO8, 1 X 1.95MM, 0.5MM HEIGHT, PLASTIC, MO-252, SOT833-1, SON-8, FF/Latch
4.60
74LVC1G74GT
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74LVC1G74GT NXP
NXP
  • 制造商:
    NXP
  • 制造商型号#:
    74LVC1G74GT
  • 百芯编号#:
    CM135094596
  • 价格(CNY):
    4.60
  • 百芯库存:
    1,508
  • 库存地点: 香港
  • 可供应量:
    860 个在库
    此为供应商库存,需要与销售确认
  • 产品类别:
    双稳态,多谐,振荡器
  • 产品描述:
    IC LVC/LCX/Z SERIES, POSITIVE EDGE TRIGGERED D FLIP-FLOP, COMPLEMENTARY OUTPUT, PDSO8, 1 X 1.95MM, 0.5MM HEIGHT, PLASTIC, MO-252, SOT833-1, SON-8, FF/Latch
  • 文档: 3D模型
74LVC1G74GT 购买 74LVC1G74GT 库存和价格更新于 2025-06-03 03:50:22
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    器件型号: 74LVC1G74GT
    百芯编号: CM135094596
    制造商: NXP
    封装: XSON
    价格
    4.60
    总计: 2,368
    MOQ: 1
    库存地点: 香港
    发货日期: 2025/06/08 (预期 )
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    74LVC1G74GT 规格 显示相似产品 (99+)
    类型
    描述
    选择
    制造商
    NXP
    类别
    双稳态,多谐,振荡器
    3D模型
     3D模型
    引脚数
    8 Pin
    封装
    XSON
    频率
    200 MHz
    电源电压(DC)
    1.65V (min)
    输出电流
    50 mA
    针脚数
    8 Position
    工作温度(Max)
    125 ℃
    工作温度(Min)
    -40 ℃
    电源电压
    1.65V ~ 5.5V
    电源电压(Max)
    5.5 V
    电源电压(Min)
    1.65 V
    显示相似产品
    74LVC1G74GT 数据规格书
    74LVC1G74GT 数据手册Datasheet
    25 Pages, 294 KB
    2013/02/26
    查看
    74LVC1G74GT 数据手册Datasheet
    25 Pages, 301 KB
    查看
    74LVC1G74GT 数据手册Datasheet
    26 Pages, 381 KB
    2010/05/06
    查看
    74LVC1G74GT 数据手册Datasheet
    25 Pages, 244 KB
    2010/05/06
    查看
    74LVC1G74GT 其它数据手册Datasheet
    19 Pages, 316 KB
    2013/02/25
    查看
    74LVC1G74GT 其它数据手册Datasheet
    1 Pages, 127 KB
    2012/12/18
    查看
    尺寸 & 包装
    类型
    描述
    工作温度
    -40℃ ~ 125℃
    产品生命周期
    Unknown
    包装方式
    Each
    符合标准
    类型
    描述
    RoHS标准
    RoHS Compliant
    含铅标准
    Lead Free
    REACH SVHC标准
    No SVHC
    REACH SVHC版本
    2015/12/17
    产品概述
    • General description
    • The 74LVC1G74 is a single positive edge triggered D-type flip-flop with individual data (D)
    • inputs, clock (CP) inputs, set (SD) and reset (RD) inputs, and complementary Q and Q
    • outputs.
    • This device is fully specified for partial power-down applications using IOFF. The IOFF circuitry disables the output, preventing damaging backflow current through the device when it is powered down.
    • The set and reset are asynchronous active LOW inputs and operate independently of the clock input. Information on the data input is transferred to the Q output on the LOW-to-HIGH transition of the clock pulse. The D inputs must be stable one set-up time prior to the LOW-to-HIGH clock transition for predictable operation.
    • Schmitt trigger action at all inputs makes the circuit highly tolerant of slower input rise and
    • fall times.
    • Features and benefits
    •  Wide supply voltage range from 1.65 V to 5.5 V
    •  5 V tolerant inputs for interfacing with 5 V logic
    •  High noise immunity
    •  Complies with JEDEC standard:
    •    JESD8-7 (1.65 V to 1.95 V)
    •    JESD8-5 (2.3 V to 2.7 V)
    •       JESD8-B/JESD36 (2.7 V to 3.6 V)
    •  ESD protection:
    •    HBM JESD22-A114F exceeds 2000 V
    •    MM JESD22-A115-A exceeds 200 V
    • ±24 mA output drive (VCC=3.0V)
    •    CMOS low power consumption
    • Latch-up performance exceeds 250 mA
    • Direct interface with TTL levels
    •    Inputs accept voltages up to 5 V
    • Multiple package options
    •    Specified from -40F℃ to +85℃ and 40℃ to +125℃

    百芯智造认证

    百芯智造承诺产品质量和安全通过ISO 9001、ISO 13485、ISO 45001、UL、RoHS、CQC 和 REACH 认证
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    • - 由百芯智造仓库仔细检查和包装
      - 真空包装
      - 防静电包装
      - 防震泡沫
    • - 收入质量控制 (IQC),800多家合格经销商。
      - 500m² 高级元器件检测实验室、假冒检测、RoHS 合规性等
      - 2000㎡数码元器件仓库,恒温恒湿
      - 开盖检查
      - X-Ray检查
      - XRF检查
      - 电气测试
      - 外观检测
    • - 不合格和假冒检测
      - 故障分析
      - 电气测试
      - 生命周期和可靠性测试
      -百芯2021年成立元器件检测实验室
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    关联型号: 74LVC1G74 数据手册

    电子元件供应服务

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    SN:H0.45LO78873V118Q0QC0S1
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