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SZMMBZ5V6ALT1G 库存 & 价格

ON Semiconductor ON SEMICONDUCTOR SZMMBZ5V6ALT1G TVS Diode, SZMMBZxxxALT1G Series, Unidirectional, 3V, 8V, SOT-23, 3Pins New
0.51
SZMMBZ5V6ALT1G
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SZMMBZ5V6ALT1G ON Semiconductor
ON Semiconductor
  • 制造商:
    ON Semiconductor
  • 制造商型号#:
    SZMMBZ5V6ALT1G
  • 百芯编号#:
    CM6368563
  • 价格(CNY):
    0.51
  • 百芯库存:
    228
  • 库存地点: 香港
  • 可供应量:
    141 个在库
    此为供应商库存,需要与销售确认
  • 产品类别:
    TVS,二极管,瞬态抑制,TVS管,瞬态电压抑制器
  • 产品描述:
    ON SEMICONDUCTOR SZMMBZ5V6ALT1G TVS Diode, SZMMBZxxxALT1G Series, Unidirectional, 3V, 8V, SOT-23, 3Pins New
  • 文档: 3D模型
SZMMBZ5V6ALT1G 购买 SZMMBZ5V6ALT1G 库存和价格更新于 2024-07-20 03:50:22
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    器件型号: SZMMBZ5V6ALT1G
    百芯编号: CM6368563
    制造商: ON Semiconductor
    封装: SOT-23-3
    价格
    0.51
    总计: 369
    MOQ: 1
    库存地点: 香港
    发货日期: 2024/07/25 (预期 )
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    类型
    描述
    选择
    制造商
    ON Semiconductor
    类别
    TVS,二极管,瞬态抑制,TVS管,瞬态电压抑制器
    3D模型
     3D模型
    安装方式
    Surface Mount
    引脚数
    3 Pin
    封装
    SOT-23-3
    工作电压
    3 V
    击穿电压
    5.6 V
    通道数
    2 Channel
    针脚数
    3 Position
    耗散功率
    0.3 W
    钳位电压
    8 V
    测试电流
    20 mA
    最大反向击穿电压
    5.88 V
    脉冲峰值功率
    24 W
    最小反向击穿电压
    5.32 V
    工作温度(Max)
    150 ℃
    工作温度(Min)
    -55 ℃
    工作结温
    -55℃ ~ 150℃
    耗散功率(Max)
    300 mW
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    SZMMBZ5V6ALT1G 数据规格书
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    2016/10/21
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    SZMMBZ5V6ALT1G 数据手册Datasheet
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    2016/09/27
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    SZMMBZ5V6ALT1G 应用笔记
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    2012/01/27
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    尺寸 & 包装
    类型
    描述
    长度
    2.9 mm
    宽度
    1.3 mm
    高度
    0.94 mm
    工作温度
    -55℃ ~ 150℃ (TJ)
    产品生命周期
    Active
    包装方式
    Tape & Reel (TR)
    符合标准
    类型
    描述
    RoHS标准
    RoHS Compliant
    含铅标准
    Lead Free
    REACH SVHC版本
    2015/12/17
    出口分类
    类型
    描述
    ECCN代码
    EAR99
    产品概述
    • **24W Dual Zener Transient Voltage Suppressor, ON Semiconductor**
    • SOT-23 Dual Common Anode Zeners for ESD Protection. This is intended for use in voltage and ESD sensitive equipment such as computers, printers, business machines, communication systems, medical equipment and other applications.

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      - 外观检测
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      - 生命周期和可靠性测试
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